来源：期刊VIP网 时间：
作者：燕一博;夏国巍;段祺君;骆立衡;尹国华;谢庆;
单位：华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室;北京智慧能源研究院;
摘要：电缆接头的交联聚乙烯（XLPE）与硅橡胶（SIR）界面发生放电是导致电缆故障的主要原因之一。为改善这一现象，本文对XLPE样片表面进行不同时间等离子体硅沉积处理，并对其进行微观形貌测试和界面放电实验。结果表明：等离子体硅沉积技术能有效提高XLPE/SIR界面的耐压性能。随着等离子体硅沉积处理时间的增加，XLPE样片表面粗糙度先减小后增大，其变化趋势与XLPE/SIR界面的起始放电电压、击穿电压和升压幅值的变化趋势相同，与表面电阻率的变化趋势相反。其中，处理时间为3 min的XLPE样片具有最小的表面粗糙度（R_a=41.8 nm）和最大的表面电阻率（857×10~(12)Ω）。在该处理时间下，XLPE/SIR界面的实际接触面积最大、界面的微孔隙数量最少、击穿电压提升幅度最大，其中击穿电压相对于未处理XLPE/SIR界面提升了66.7%。
关键词：等离子体硅沉积;;交联聚乙烯;;硅橡胶;;界面放电;;表面粗糙度
基金资助：国家自然科学基金资助项目(52277147);; 北京市自然科学基金资助项目(3222057);; 中国博士后科学基金资助项目(2023M741322)
