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作者：赵丽伟;张宗华;付帅;孟召宗;高楠;
单位：河北工业大学机械工程学院;
摘要：条纹投影轮廓术是获取物体三维形貌最有效的方法之一，但是在测量高反光物体时，需要投影较多条纹图像，且精度不高。为此，提出一种基于调整投影强度的高反光物体三维形貌测量方法。通过计算物体表面系数并根据反射系数分布直方图求解最佳投影强度；结合极线约束和相位信息计算相机和投影仪的坐标对应关系，生成自适应条纹；将自适应条纹投影到被测物体表面实现对物体的三维测量。实验结果表明，测量高反光面台阶时，最大绝对误差为0.0249 mm，比单一投影强度法减少97.8%，比现有调整投影强度法误差减少18.6%，投影图像数量减少18幅。所提方法在减少投影条纹数量的同时提高了测量精度。
关键词：光学测量;;条纹投影;;高反光物体;;自适应条纹;;极线约束
基金资助：国家自然科学基金（U2341275）
