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作者：冯宇翔;鞠响;李永伟;孙海峰;
单位：山西科技学院智能制造工程学院;太原工业学院自动化系;长春电子科技学院信息工程学院;
摘要：为了提高电路板缺陷的识别准确率，减少缺陷漏检或误检情况，搭建了基于多波长组合照射的缺陷检测系统。利用不同波长对不同类型缺陷的成像效果不同，设计了一种多波长多梯度的分层加权识别算法。系统对同一测试区域采用多个不同中心波长的光源照射，并在同一波长上采用多个照射强度形成梯度照射，从而构成测试图像集合。将多波长照射的测试结果分别与其对应波长上不同强度的照射结果进行对比，从而实现不同缺陷类型的最大对比度寻优。实验采用3个特征波长配合4个灰度梯度进行测试。结果显示，295 nm对鼠咬缺陷、555 nm对短路和连桥缺陷的识别效果最佳。灰度梯度1对毛刺缺陷、灰度梯度3对缺孔缺陷的识别效果最佳。该算法的缺陷识别准确率均值为93.8%,综合性能优于YOLOv5算法及宽带光源检测法，具有更好的实用性。
关键词：缺陷检测;;多波长多梯度分类;;加权识别;;缺陷类型
基金资助：山西省基础研究计划项目(202203021212335、202103021224337);; 山西省重点研发计划项目(202202150401007);; 山西省教学改革创新项目(J20241891)
