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作者：纪斌;
单位：四川福碳新材料科技有限公司;
摘要：通过X射线衍射(XRD)、氮气吸附-脱附等温线法(BET)、拉曼光谱等手段，对不同烧结工艺制备的等静压石墨样品的微观结构如晶粒尺寸、孔隙率、孔隙分布、石墨层间距及石墨化度等进行表征分析。采用四探针法测试导电性能，构建多元线性回归模型解析微观结构参数与电阻率关系。结果表明，晶粒尺寸和石墨化度的增加利于降低电阻率，孔隙率增加则使电阻率上升，其中孔隙率对电阻率影响最为显著。较大晶粒尺寸减少晶界散射、优化导电路径，低孔隙率减少电子迁移阻碍，高石墨化度提升电荷载流子传输效率。优化等静压石墨导电性能需精准控制这些微观结构参数，本研究为高性能石墨材料开发应用提供理论依据。
关键词：等静压石墨;微观结构;导电性能;晶粒尺寸;孔隙率;石墨化度
