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作者：杨莉禹;任鑫;宁宇;刘晓曼;高丽;游俊玮;姚政;
单位：上海大学理学院纳米科学与技术研究中心;
摘要：研究了铝铟共掺杂对ZnO压敏电阻的微观结构和电学性能的影响，特别是浪涌冲击稳定行为。采用X射线衍射、扫描电子显微镜对ZnO压敏电阻的微观结构进行了表征，通过电流—电压测试、脉冲电流冲击测试和电容—电压测试对电性能进行了评估。结果表明：当Al~(3+)和In~(3+)掺杂量分别为0.0008 mol%和0.0033 mol%时，ZnO压敏电阻表现出了最佳的电性能；此时的电位梯度为95.3 V·mm~(-1)、非线性系数为74、残压比为2.43。另外，ZnO压敏电阻在8/20μs 10 k A电流下冲击20次后，正反压敏电压变化率分别为+3.30%和-6.67%。
关键词：ZnO压敏电阻;;施主掺杂;;电性能;;浪涌冲击稳定性
基金资助：上海市自然科学基金(17ZR1410300)
