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作者：罗庆洪;娄艳芝;汤斌兵;贾荣光;李致良;
单位：中国航发北京航空材料研究院;南昌大学物理与材料学院;国标(北京)检验认证有限公司电镜中心;普锐斯(上海)贸易有限公司;
摘要：为测定航空用高强度7055铝合金中纳米析出相的数密度，采用透射电子显微镜中心暗场成像方法观察纳米析出相，并进行统计分析，通过双束会聚束电子衍射（CBED）花样分析获取试样局部厚度，考虑到测试区边缘第二相颗粒被切割导致数密度测量值偏高的情况，运用体视学方法，对纳米颗粒数密度进行修正。研究结果表明：7055铝合金中测试区数密度修正系数为0.928，修正后3 nm以上析出相的数密度为8.9×10~(11) mm~(-3)。研究结论为探讨7055铝合金中的析出强化效果、改进热处理工艺和优化材料性能提供数据支撑。
关键词：铝合金;;析出相;;会聚束电子衍射;;薄晶体厚度;;数密度
