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作者：祝战科;吉凡;柯熙政;
单位：陕西工业职业技术学院航空工程学院;咸阳市智能制造装备技术重点实验室;西安理工大学自动化与信息工程学院;
摘要：为了研究光学元件对光学系统性能的具体影响，人们采用Zernike多项式作为分析工具对其性能进行评估。文章从光学元件优化方法以及Zernike多项式的理论基础出发，介绍了圆Zernike多项式和环Zernike多项式的概念，并探讨了圆Zernike多项式与Seidel像差的关系及其在波前拟合中的应用；梳理了国内外在光学元件面形优化、结构优化以及系统成像性能优化方面的研究成果，展示了Zernike多项式在这些领域中的作用；分析了影响光学元件优化的关键因素，并指出了这些因素对Zernike多项式优化效果的影响。最后，对Zernike多项式在光学元件优化中的发展趋势进行了展望。
关键词：Zernike多项式;;光学元件;;面形优化;;结构优化;;系统成像性能优化
基金资助：陕西省重点产业创新项目(2017ZDCXL-GY-06-01);; 国家自然科学基金面上项目(61377080)
