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作者：张志武;马明磊;常文慧;杜冬生;唐智超;方汀;周俊楠;姚鹏辉;
单位：张家口卷烟厂有限责任公司;河北省机电一体化中试基地有限公司;河北省智能测控技术创新中心;河北省科学院;河北大学光信息技术创新中心;
摘要：光纤中的双折射作为表征多种物理量的敏感载体，为了验证双折射可以表征横向应力，文章基于偏振态分析技术，将二元磁光PSG和PSA融入OFDR技术中组成双折射测量系统，首先对比分析了PSG和PSA在双折射测量中的原理和优势，然后通过施加压力的方式引入压力诱导线双折射，测量值与理论值平均误差为6.20%，验证了测量系统的准确性。基于此将SMF嵌入到不同制作工艺缺陷的GFRP内，在弯曲形变半径为6cm时内部SMF受横向应力诱导双折射的多次测量平均值为4.91×10~(-6)，排除了制作工艺缺陷对测量的影响，验证了双折射表征横向应力的能力，这对从事GFRP材料弯曲形变以及弯曲形变引入横向应力的研究人员和科学家提供了新的思路。
关键词：偏振分析技术;;光频域反射技术;;单模光纤双折射;;横向应力
基金资助：国家自然科学基金项目（61975147）;; 河北省京津冀协同创新专项（25241801D）;; 河北中烟工业有限责任公司科技项目（HBZY2024A057）;; 河北省科学院高端人才引进项目（25B901）
