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作者：沈锺杰;张一圣;孔锐;王建超;
单位：中国电子科技集团公司第五十八研究所;
摘要：利用集成电路自动测试设备（ATE）测试高速DAC射频参数时，由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因，导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此，文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法；其次为解决上述问题，对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进，并将改进前后的测试值与典型值进行对比。结果表明，改进措施成效显著，大大优化了高速DAC射频参数的测试指标，使得SFDR等高频DAC动态类参数指标接近或达到实装测试值。
关键词：集成电路;;自动测试设备(ATE);;高速数模转换器;;射频参数;;SFDR参数;;测试码;;PCB测试板
