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作者：刘立娥;方志刚;宋静丽;原琳;魏代霞;
单位：辽宁科技大学化学工程学院;
摘要：根据拓扑学原理，基于密度泛函理论，从能量、能隙差、键级、键级贡献率和键长五个方面对反铁磁材料CrPS_4的稳定性与成键情况进行分析。研究表明，团簇的16种稳定构型含二、四重态各8种，其中平面形2种、三角双锥带帽型11种、四角双锥型1种、四棱锥带帽2种。在所有构型中，无论是热力学稳定性还是化学稳定性，构型1~((4))均居于首位，稳定性较好。化学键的键级贡献率因构型不同而异。综合分析发现，化学键强度大小依次为：Cr—S>S—P>S—S,S—S键最不稳定，甚至在有些构型中不易形成，即使形成，也极易断裂，而Cr—P键就很稳定，但与其他三种化学键的强度关系不易确定。
关键词：反铁磁;;稳定性;;成键;;密度泛函;;键级;;键长
基金资助：国家自然科学基金重点资助项目(51634004);; 国家级大学生创新创业训练计划资助项目(202010146009,202010146016,202110146027);; 辽宁省大学生创新创业训练计划资助项目(S202110146030,S202110146056,S202110146052,S202110146055,S202110146040,S202110146049)
