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作者：陶祖才;王强;肖雄;宋宝林;张文强;刘双全;黄先超;丁雨憧;徐扬;
单位：中电科芯片技术(集团)有限公司;中国电子科技集团公司第二十六研究所;中国科学院近代物理研究所;中国科学院高能物理研究所;
摘要：本文使用YSO晶体阵列和MPPC阵列组成核辐射成像探测器，探究了基于MPPC阵列的核辐射成像探测器性能关键影响因素，包括前端电阻网络、光导厚度和光导边缘切割深度。首先，前端电子学实验发现，采用均匀电荷分配电路（SCD）可改善图像变形问题并提高信噪比。接着，在SCD基础上研究了不同厚度光导（0、1.0、1.5、2.0、2.5mm）对成像性能的影响，结果显示光导厚度为1.5mm时具有最佳分辨效果，但仍无法区分晶体阵列边缘像素。最后，在1.5mm光导基础上，对光导外围进行不同深度切割并插入增强型镜面反射膜（ESR），实验表明全部切透且加入反射膜时，可以明显区分出边缘晶体单元。
关键词：MPPC阵列;;YSO晶体阵列;;核辐射成像探测器;;电子学;;前端电阻网络;;光导厚度;;光导边缘切割深度
基金资助：国家重点研发计划(2022YFF0707900,2022YFF0706400);; 中电科芯片(集团)有限公司发展资金(K2602ZZ2023032)
