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作者：祝战科;吴培洁;吴加丽;柯程虎;柯熙政;
单位：陕西工业职业技术学院航空工程学院;西安理工大学自动化与信息工程学院;西安文理学院信息工程学院;咸阳市智能制造装备技术重点实验室;
摘要：光学系统的成像质量受实际光路与理想光路偏差导致的像差影响，而Zernike多项式作为描述像差的有效工具，可描述和分析光学像差特性。综述了国内外相关研究进展，重点解析了标准Zernike多项式、Zernike圆多项式及Zernike条纹多项式的数学表达形式，明确了其与球差、彗差、像散等典型像差的对应关系。研究表明，Zernike圆多项式通过极坐标正交基函数特性，能高效表征轴对称像差分布，而条纹多项式则适用于离轴像差描述。
关键词：Zer ni ke多项式;;像差;;光学系统;;像差描述
基金资助：国家自然科学基金面上项目（61377080）资助;; 陕西省重点产业创新项目（2017ZDCXL-GY-06-01）资助
