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作者：杨帆;沈钰琳;龚灿;刘兆鑫;郭强胜;许旭;
单位：上海应用技术大学化学与环境工程学院;
摘要：与使用有机小分子基质的基质辅助激光解吸电离质谱（MALDI-MS）技术相比，基于纳米材料基质的表面辅助激光解吸电离质谱（SALDI-MS）对小分子化合物的分析效果更好。本研究采用离子溅射仪将碳/铂材料溅射到玻璃盖玻片上制备纳米碳-铂（C-Pt）复合基质，建立了基于预制碳-铂复合基质的SALDI-MS分析方法。实验结果表明，使用C-Pt复合基质显著提高了待测成分质谱峰的信号强度和信噪比。考察了碳与铂的比例、离子溅射的时长和质谱激光强度的影响，得到C-Pt预制基质的最佳制备条件和质谱分析条件。在预制C-Pt复合基质上点样，采用SALDI-MS分析蜜三糖和大豆苷元，质谱峰强度点内重复性（相对标准偏差，RSD）≤4.8%，点间重复性RSD≤6.4%；在0.05～1.0 mg/mL范围内，槲皮素和蜜三糖的质谱峰强度与浓度的线性相关系数（R~2）>0.994，显示出较好的定量分析及用于质谱成像的潜力。在预制C-Pt复合基质上点样大豆50%乙醇提取液用于SALDI-MS分析，从提取液中识别出寡糖和甘油三酯等15种化合物。在预制C-Pt复合基质上覆盖玉米组织切片，用于SALDI-MS成像分析，获得了玉米中寡糖、甘油二酯和甘油三酯的分布图，结果显示，甘油二酯和甘油三酯主要分布在玉米的胚及胚的周围，寡糖的分布较为均匀。
关键词：表面辅助激光解吸电离质谱;;质谱成像;;预制基质;;纳米碳-铂复合基质
基金资助：国家自然科学基金项目（No.31671928）;; 上海应用技术大学科技发展基金项目（No.KJFZ2023-11）资助~~
