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作者：周亚伟;呼义翔;杨实;何德雨;钟爱旭;张信军;梁天学;何春清;
单位：西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应全国重点实验室;武汉大学物理科学与技术学院湖北省核固体物理实验室;
摘要：利用正电子湮没寿命谱技术研究了缺陷对脉冲电压下介电材料真空沿面绝缘性能的影响。基于晨光号加速器开展了四种介电材料真空沿面耐压考核实验，分析了四种材料的真空沿面绝缘性能。研究结果表明，正电子湮没平均寿命越长，介电材料的真空沿面耐压性能越差。利用正电子湮没平均寿命量化了材料中的缺陷信息。分析认为，缺陷的存在引起材料介电常数突变，同时缺陷易于捕获自由载流子，加剧材料表面电荷集聚，导致材料真空沿面局部电场畸变，造成介电材料真空沿面绝缘失效。
关键词：正电子湮没寿命;;缺陷;;电荷集聚;;沿面闪络;;脉冲电压;;介电材料
