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作者：张也平;杨童博;李紫薇;
单位：中国工程物理研究院流体物理研究所;西南交通大学数学学院统计系;西南科技大学信息工程学院;西南科技大学复杂环境装备可靠性研究中心;
摘要：针对光电探测器的储存寿命评估问题，综合考虑样品关键性能参数有无变坏或者向好的趋势情况，提出了一种基于蒙特卡洛法的多参数竞争失效储存寿命评估新方法。首先，通过性能退化建模选择单一参数的最优退化模型，从而对于退化趋势递增的样品根据失效阈值计算其伪寿命，对于退化趋势递减的样品将其伪寿命看作右删失数据；然后，根据伪寿命数据结合最大期望（Expectation Maximization, EM）算法选择单一性能参数的最优分布；最后，通过蒙特卡洛采样法进行多参数的竞争失效评估。以光电探测器储存案例为实例，验证了该方法的可行性。
关键词：多参数性能退化;;竞争失效;;储存寿命;;最大期望算法;;蒙特卡洛采样
基金资助：国家自然科学基金项目（12205277）~~
