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作者：游文超;孙高宇;彭珂菲;黄姣英;
单位：北京航空航天大学可靠性与系统工程学院;南京信息工程大学自动化学院;中国农业大学工学院;
摘要：脉宽调制器作为开关电源的核心器件，已广泛应用于航天器中，但其贮存寿命会影响电源系统的可靠性，进而影响航天器任务执行的成败。在寿命评估中，加速退化试验是常用的试验方法，其中激活能值是预测器件贮存寿命的关键，但目前相关标准只有器件激活能值的参考范围，缺乏试验相关条件设置的详细描述，这会影响寿命评估的精度。为此，文中以JW1525脉宽调制器为研究对象，分析JW1525的结构及工作原理，设计并完成72 h的加速退化预试验，得到器件的退化敏感参数作为输出电压。根据预试验结果设计并完成440 h的加速退化正式试验，并结合Arrhenius模型对正式试验结果进行数据处理，得到JW1525的激活能为0.29 eV，常温下贮存寿命将近70年。通过详细的器件结构分析和试验开展，得出脉宽调制器的激活能和常温贮存寿命，可为后续研究提供数据和试验基础。
关键词：加速退化试验;;脉宽调制器;;贮存寿命;;Arrhenius模型;;激活能;;退化敏感参数
