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作者：林晓会;解维坤;宋国栋;
单位：中国电子科技集团公司第五十八研究所;
摘要：针对FPGA内部的LUT资源覆盖测试，提出一种新型BIST的测试方法。通过改进的LFSR实现了全地址的伪随机向量输入，利用构造的黄金模块电路与被测模块进行输出比较，实现对被测模块功能的快速测试，并在Vivado 2018.3中完成了仿真测试。通过ATE测试平台，加载设计的BIST测试向量，验证结果与仿真完全一致，仅2次配置即可实现LUT的100%覆盖率测试。此外，还构建了LUT故障注入模拟电路，人为控制被测模块的输入故障，通过新型BIST的测试方法有效诊断出被测模块功能异常，实现了准确识别。以上结果表明，该方法不仅降低了测试配置次数，而且能够准确识别LUT功能故障，适用于大规模量产测试。
关键词：查找表;;内建自测试;;FPGA;;故障注入;;线性反馈移位寄存器;;自动测试设备
