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作者：梁晨宇;周小燕;孔繁林;路小龙;邹红强;李龙;柯尊贵;
单位：西南技术物理研究所;
摘要：激光焦平面探测器组件作为激光三维成像系统的核心组成部分，需要具备高可靠性和长使用寿命。通过故障模式、影响及危害性分析(FMECA)系统识别了激光焦平面探测器组件的寿命薄弱环节，深入剖析了影响其寿命的主要因素，并提出以薄弱环节替代整体产品进行寿命评估的方法。针对激光焦平面探测器组件存在长寿命周期与试验样本量有限的特点，提出了一种k/n可靠性建模方法。基于正常应力下的小样本寿命试验，利用像元寿命数据实现对探测器整体寿命的推导计算。试验结果表明，k/n模型能够在较小样本量条件下对激光焦平面探测器组件工作寿命进行评估，有助于解决此类产品研制周期短、试验样本少的难题。
关键词：激光焦平面探测器组件;;薄弱环节;;k/n模型;;小样本;;工作寿命
