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磁共振成像2025年第12期:集成磁共振成像技术在全面发育迟缓儿童脑部中的定量研究

来源:期刊VIP网 时间:


作者:李天宇;赵鑫;周梁;王长浩;陆林;程美英;张小安;

单位:郑州大学第三附属医院放射科;河南省神经医学影像国际联合实验室;河南省小儿神经影像医学重点实验室;

摘要:目的使用集成磁共振成像技术(synthetic magnetic resonance imaging, SyMRI)分析全面发育迟缓(global developmental delay, GDD)儿童脑微结构特征。材料与方法 收集2024年5月至2024年10月郑州大学第三附属医院55例GDD儿童(GDD组)与30例典型发育(typical development, TD)儿童(TD组)的SyMRI序列和临床资料,测量其8组灰质感兴趣区域的SyMRI参数值[T1、T2弛豫值和质子密度(proton density, PD)值],将存在差异的脑区的SyMRI参数值与Gesell量表进行相关性分析,使用受试者工作特征(receiver operating characteristic, ROC)曲线分析SyMRI参数的诊断效能。结果 与TD组相比,GDD组在左侧顶叶灰质、右侧枕叶灰质的T1弛豫值,左侧顶叶灰质、双侧颞叶灰质的T2弛豫值以及左侧颞叶灰质和右侧枕叶灰质的PD值均增高,且差异具有统计学意义(P<0.003);相关性分析发现,左侧顶叶灰质T1弛豫值分别与适应性行为发育商及个人社交发育商成正相关(r=0.327,P=0.015;r=0.535,P<0.001);左侧顶叶灰质T2弛豫值与适应性行为发育商成正相关(r=0.449,P=0.001);左侧颞叶灰质T2弛豫值分别与适应性行为发育商及个人社交发育商成正相关(r=0.348,P=0.009;r=0.321,P=0.017);左侧颞叶灰质PD值与精细动作发育商成正相关(r=0.322,P=0.017)。ROC曲线分析表明,左侧顶叶灰质T2弛豫值曲线下面积最大,为0.752。结论 SyMRI参数可以提示GDD患儿脑微结构的异常,其有助于了解GDD的病理生理机制并对GDD的早期识别诊断存在一定的价值。

关键词:全面发育迟缓;;集成磁共振成像;;磁共振成像;;脑微结构;;Gesell量表

基金资助:国家自然科学基金项目(编号:82371929、82472046)~~