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作者：吴乾生;高健;张揽宇;郑卓鋆;
单位：省部共建精密电子制造技术与装备国家重点实验室广东工业大学;
摘要：针对LED芯片工业化生产中人工目检缺陷检测效率低，速度慢，易疲劳，受主观影响等问题，这里研究设计了一套LED芯片缺陷的快速检测系统，提出了一种分角度多方向快速卷积、分区统计特征量、支持向量机分类的LED芯片缺陷识别算法，基于QT和Opencv开发了一套LED芯片缺陷快速检测与分类系统，搭建LED芯片检测系统的硬件平台，实现LED芯片实时在线缺陷识别和自动分拣。基于研发的LED芯片缺陷快速检测与分拣系统样机，对LED芯片进行了缺陷分拣的测试。
关键词：LED;;特征量提取;;PCA;;支持向量机;;多分类
基金资助：国家自然科学基金NSFC面上项目（52075106）
